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織構(gòu)和極圖

在材料科學(xué)中,織構(gòu)表述樣品晶體取向分布。 樣品這些取向是隨機(jī)的被稱為隨機(jī)織構(gòu)。如果晶體取向不隨機(jī),而是有些擇優(yōu)取向,樣品則有弱,強(qiáng)和中等織構(gòu)??棙?gòu)程度取決于晶體擇優(yōu)取向的百分比??棙?gòu)存在于幾乎全部工程材料中,且對材料性能的影響很大??棙?gòu)經(jīng)常用"極圖"來表示。